AS ONE 亚速旺(上海)商贸研究医疗实验仪器及耗材相关的所有东西都可以在这里找到。

小分类

品牌

力金
凤凰
宝合 BOOHER
WESTWARD
威汉 WIHA
Kautex
SK PROFESSIONAL TOOLS

显微分光膜厚仪自动XY平台型
Otsuka/大塚电子大塚電子人气度 ☆☆☆☆☆ 已订购 -

咨询查看详情 >

编号	型号	规格	波长范围（nm）	膜厚范围	销售包装	RMB(含税)	北京库存	上海库存	日本库存	参考货期	查询NO.
CP-3894-01	OPTM-A1	自动XY平台型	230-800	1nm-35μm	1台	咨询	0	0	0	另询	**30
CP-3894-02	OPTM-A2	自动XY平台型	360-1100	7nm-49μm	1台	咨询	0	0	0	另询	**30
CP-3894-03	OPTM-A3	自动XY平台型	900-1600	16nm-92μm	1台	咨询	0	0	0	另询	**30
CP-3894-04	OPTM-F1	固定框架型	230-800	1nm-35μm	1台	咨询	0	0	0	另询	**30
CP-3894-05	OPTM-F2	固定框架型	360-1100	7nm-49μm	1台	咨询	0	0	0	另询	**30
CP-3894-06	OPTM-F3	固定框架型	900-1600	16nm-92μm	1台	咨询	0	0	0	另询	**30
CP-3894-07	OPTM-H1	嵌入头型	230-800	1nm-35μm	1台	咨询	0	0	0	另询	**30
CP-3894-08	OPTM-H2	嵌入头型	360-1100	7nm-49μm	1台	咨询	0	0	0	另询	**30
CP-3894-09	OPTM-H3	嵌入头型	900-1600	16nm-92μm	1台	咨询	0	0	0	另询	**30

查看更多产品 ▼

小角激光散射仪
Otsuka/大塚电子大塚電子人气度 ☆☆☆☆☆ 已订购 -

咨询查看详情 >

编号型号球晶径相关长销售包装 RMB(含税) 北京库存上海库存日本库存参考货期查询NO.
CP-3896-01 PP-1000 1.3～175μm 0.1～100μm 1台咨询 0 0 0 另询 **30
瞬间多通道光谱仪 MCPD series MCPD-9800 1台
Otsuka/大塚电子大塚電子人气度 ☆☆☆☆☆ 已订购 -

咨询查看详情 >

编号型号销售包装 RMB(含税) 北京库存上海库存日本库存参考货期查询NO.
CP-3899-01 MCPD-9800 1台咨询 0 0 0 另询 **30
CP-3899-02 MCPD-6800 1台咨询 0 0 0 另询 **30

线扫描膜厚仪在线型
Otsuka/大塚电子大塚電子人气度 ☆☆☆☆☆ 已订购 -

咨询查看详情 >

编号	型号	膜厚范围	测量宽度	销售包装	RMB(含税)	北京库存	上海库存	日本库存	参考货期	查询NO.
CP-3898-01	在线型	0.7～300μm	横向500mm×最大10m×纵向1mm	1台	咨询	0	0	0	另询	**30
CP-3898-02	离线型	0.7～300μm	横向250mm×纵向1mm	1台	咨询	0	0	0	另询	**30

ZETA电位粒径分子量测试系统
Otsuka/大塚电子大塚電子人气度 ☆☆☆☆☆ 已订购 -

咨询查看详情 >

编号	型号	测量温度范围	测量浓度范围	销售包装	RMB(含税)	北京库存	上海库存	日本库存	参考货期	查询NO.
CP-3900-01	ELSZNEO	0~90℃	粒径：0.00001%（0.1ppm)~40%※1	1台	咨询	0	0	0	另询	**30

相位差测量设备
Otsuka/大塚电子大塚電子人气度 ☆☆☆☆☆ 已订购 -

咨询查看详情 >

编号	型号	cell gap测量范围	cell gap重复性	测量波长范围(nm)	销售包装	RMB(含税)	北京库存	上海库存	日本库存	参考货期	查询NO.
CP-3897-01	RETS-100nx	0.1mu～10mu	0.005	400nm～800nm	1台	咨询	0	0	0	另询	**30

多样品纳米粒径测量系统
Otsuka/大塚电子大塚電子人气度 ☆☆☆☆☆ 已订购 -

咨询查看详情 >

编号

型号

浓度范围

温度范围

连续测定

样品容量

销售包装

RMB(含税)

北京库存

上海库存

日本库存

参考货期

查询NO.

CP-3895-01

nanoSAQLA

0.00001～40%

0～90℃（具备温度梯度功能）※2

最多5个样品

四面透光比色皿：1.2mL～、微量比色皿：20μL～

1台

咨询

另询

**30

CP-3895-02

AS50

0.001～40%

15~40℃

最多50个样品

0.4～0.6ml

1台

咨询

另询

**30

CP-3894-01 共有9种

显微分光膜厚仪自动XY平台型

Otsuka/大塚电子大塚電子

人气度 ☆☆☆☆☆ 已订购 -
非接触·非破坏·显微！测量时间仅1秒！

特点：● 非接触、非破坏式，量测头可自由集成在客户系统内。
● 初学者也能轻松解析建模的初学者解析模式
● 高精度、高再现性量测紫外到近红外波段内的绝对反射率，可分析多层薄膜厚度、光学常数（n：折射率、k：消光系数）
● 单点对焦加量测在1秒内完成
● 显微分光下广范围的光学系统（紫外~近红外）
● 独立测试头对应各种inline定制化需求
● 最小对应spot约3μm
● 专利（专利编号第5172203号）可针对超薄膜解析nk

规格：● 半导体、复合半导体：硅半导体、碳化硅半导体、砷化镓半导体、光刻胶、介电常数材料
● FPD：LCD、TFT、OLED（有机EL）
● 资料储存：DVD、磁头薄膜、磁性材料
● 光学材料：滤光片、抗反射膜
● 平面显示器：液晶显示器、薄膜晶体管、OLED
● 薄膜：AR膜、HC膜、PET膜等
● 其它：建筑用材料、胶水、DLC等

查看详情>

咨询
CP-3896-01 共有1种

小角激光散射仪

Otsuka/大塚电子大塚電子

人气度 ☆☆☆☆☆ 已订购 -
采用小角光散射法，实时评价高分子、薄膜的构造变化

特点：● 0.33~45°散射角度的测量，最短测试时间10毫秒
● 检测范围0.1μm~数十微米
● 可以在专用溶液单元中测量溶液样本
● Hv散射，Vv散射测量可以在软件上轻松切换

规格：● 测量项目：聚合物结晶（球晶、针状结晶、微结晶等）、温度变化时的构造变化（动态测量）、高分子共混物的相分离结构（相关长）、由于拉伸和紫外线导致的构造变化（※需要咨询）

查看详情>

咨询
CP-3899-01 共有2种

瞬间多通道光谱仪 MCPD series MCPD-9800 1台

Otsuka/大塚电子大塚電子

人气度 ☆☆☆☆☆ 已订购 -
高速·高灵敏测量紫外·可视·近红外光谱

特点：● 与本公司旧机型相比，具有更宽动态范围·更低杂散光
● 实现了从5ms到65s的长跨度曝光时间的高再现性和直线性
● 通过柔性光纤和丰富的选配单元，实现自由的光学系
● 根据用途划分的丰富的产品阵容，满足JIS Z 8724要求的高性能分光器

规格：● 测量项目：发射光谱测量、透射/吸收光谱测量、反射光谱测量、荧光测量、物体颜色测量、光源颜色测量（色度、亮度、照度）、膜厚测量、等离子体发射光谱测量

查看详情>

咨询
CP-3898-01 共有2种

线扫描膜厚仪在线型

Otsuka/大塚电子大塚電子

人气度 ☆☆☆☆☆ 已订购 -
分光膜厚测量的先驱者，实现高精度全幅·全长测量

特点：● 采用线扫描方式无遗漏检测整面薄膜
● 最短1ms可测量500mm宽度的膜厚（膜厚测量范围：0.1μm～300μm）
● 硬件·软件均为创新设计
● 作为专业膜厚测量厂商，提供多种支援

查看详情>

咨询
CP-3900-01 共有1种

ZETA电位粒径分子量测试系统

Otsuka/大塚电子大塚電子

人气度 ☆☆☆☆☆ 已订购 -
非常适用于界面化学、无机物质、半导体、聚合物、生物学、制药和医学领域的基础研究和应用研究，不仅涉及微小颗粒，还涉及薄膜和平板表面的科学研究。

特点：● 可对应从稀薄到浓厚溶液（~40%）宽浓度范围的粒径和ZETA电位测量
● 通过多角度测定，可测量分辨率更高的粒径分布
● 可以在高盐浓度下测量平板样品的ZETA电位
● 通过静态光散射法可测量粒子的浓度
● 能过动态光散射法可测量微流变学
● 通过测量凝胶样品在多个点的散射强度和扩散系数，可以分析凝胶的网络结构和不均匀性。
● 可以在0~90℃的宽温度范围内进行测量
● 通过温度梯度功能，可对蛋白质等的变性及相变温度进行解析
● 通过样品池内的实测电气浸透流图分析，提供高精度的ZETA电位测量结果,
● 可安装荧光滤光器(选配)

规格：● 适用于新型功能材料领域:燃料电池相关（碳纳米管、富勒烯、功能膜、催化剂、纳米金属）、纳米生物相关（纳米胶囊、树枝状聚合物、DDS、纳米生物粒子）、纳米气泡等。
● 适用于陶瓷/着色材料工业领域：陶瓷（二氧化硅/氧化铝/氧化钛等）、无机溶胶的表面改性/分散/聚集控制、颜料的分散/聚集控制（炭黑/有机颜料）、浆料状样品、滤光器、浮游选定矿物的捕集材料的收集和研究
● 适用于半导体领域：异物附着在硅晶片表面的原理解析、研磨剂和添加剂与晶片表面的相互作用的研究、CMP浆料的相互作用
● 适用于聚合物/化工领域：乳液（涂料/粘合剂）的分散/聚集控制，乳胶的表面改性（医药/工业）、聚电解质（聚苯乙烯磺酸盐，聚羧酸等）的功能研究、功能纳米颗粒纸/纸浆造纸过程控制和纸浆添加剂研究
● 适用于制药/食品工业领域：乳液（食品/香料/医疗/化妆品）分散/聚集控制及蛋白质的机能性检测、脂质体/囊泡分散/聚集控制及表面活性剂（胶束）机能性检测。

查看详情>

咨询
CP-3897-01 共有1种

相位差测量设备

Otsuka/大塚电子大塚電子

人气度 ☆☆☆☆☆ 已订购 -
可测量任意波长下的高精度相位差

特点：● 全波段高速测量
● 可测量任意波长下的高精度相位差
● 通过选择倾斜旋转样品台（选配），进行三次元折射率解析（Rth测量）
● 通过对轴角度补正功能（选配）高精度测量轴角
● 对应约0~60,000nm的广范围相位差
● 无需剥离、非破坏的测量多层贴合膜。

规格：● 测量项目：相位差（波长分散）、光轴、Rth（Nx，Ny，Nz）、偏光片吸收轴、偏光度、消光比、各种色度、各种透过率、液晶cellgap、预倾角、扭曲角、配向角等

查看详情>

咨询
CP-3895-01 共有2种

多样品纳米粒径测量系统

Otsuka/大塚电子大塚電子

人气度 ☆☆☆☆☆ 已订购 -
兼具[高性能]和[使用简单]！可对应从稀薄~浓厚溶液的宽广浓度范围

特点：● nanoSAQLA是一台通过动态光散乱法（DLS法）测量粒径（粒径0.6nm~10um）的装置。支持从稀薄到浓厚系广泛浓度范围内的多检体测定的新光学系统，实现了实验室必需的轻量、小型化、标准1分钟的高速测定。另外，这是一款非浸泡型、不受接触器影响、无需自动取样器、标准配备“5检体连续测量”的新产品。
● 可选配件AS50，最大可连续测量50个样品

查看详情>

咨询

显微分光膜厚仪自动XY平台型

咨询

小角激光散射仪

咨询

瞬间多通道光谱仪 MCPD series MCPD-9800 1台

咨询

线扫描膜厚仪在线型

咨询

ZETA电位粒径分子量测试系统

咨询

相位差测量设备

咨询

多样品纳米粒径测量系统

咨询

关于本站

政策声明

售后服务

亚速旺在线客服

编号	型号	球晶径	相关长	销售包装	RMB(含税)	北京库存	上海库存	日本库存	参考货期	查询NO.
CP-3896-01	PP-1000	1.3～175μm	0.1～100μm	1台	咨询	0	0	0	另询	**30

显微分光膜厚仪 自动XY平台型

咨询

小角激光散射仪

咨询

瞬间多通道光谱仪 MCPD series MCPD-9800 1台

咨询

线扫描膜厚仪 在线型

咨询

ZETA电位 粒径分子量测试系统

咨询

相位差测量设备

咨询

多样品纳米粒径测量系统

咨询

关于本站

政策声明

售后服务

亚速旺在线客服

显微分光膜厚仪自动XY平台型

线扫描膜厚仪在线型

ZETA电位粒径分子量测试系统