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相位差测量设备  
リタデーション測定装置 Retardation Film Inspection System

参考资料

可测量任意波长下的高精度相位差

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特点


● 全波段高速测量
● 可测量任意波长下的高精度相位差
● 通过选择倾斜旋转样品台（选配），进行三次元折射率解析（Rth测量）
● 通过对轴角度补正功能（选配）高精度测量轴角
● 对应约0~60,000nm的广范围相位差
● 无需剥离、非破坏的测量多层贴合膜。

规格


● 测量项目：相位差（波长分散）、光轴、Rth（Nx，Ny，Nz）、偏光片吸收轴、偏光度、消光比、各种色度、各种透过率、液晶cellgap、预倾角、扭曲角、配向角等

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