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微量样品前处理系统    
微小試料前処理システム(DiamondEX-PressII)

品牌其他
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特点


● 适用于测定硬质及有弹性的试样｡
● 也可用于宏观分析样品的测定、高放大倍数显微型FTIR与卡塞格林物镜（43×）。
● 利用三个方向的螺钉，在安装到体视显微镜的状态下，可以对加压状态进行微调。

规格


● 加压力:100MPa(10.2kgf/mm2)
● 动作距离:5.5m以上
● 尺寸:主体/51×76×11mm、转盘支座/φ43×2.5mm

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